陶瓷涂層厚度檢測(cè)方法介紹
2017-1-18 17:15:53點(diǎn)擊：
陶瓷涂層厚度的檢測(cè)包括局部厚度的檢測(cè)和平均厚度的檢測(cè)。監(jiān)測(cè)方法有非破壞性檢測(cè)（無(wú)損檢測(cè)）和破壞性檢測(cè)兩種方法。
熱噴涂陶瓷涂層無(wú)損檢測(cè)方法主要有磁性法、渦流法、測(cè)量法等；破壞性檢測(cè)法主要有金相顯微鏡法。
１.磁性法
磁性法工作原理是以探頭對(duì)磁性基體磁通量或互感電流為基準(zhǔn)，利用其表面的非磁性陶瓷涂層的厚度不同，對(duì)探頭磁通量或互感電流的線性變化值來(lái)測(cè)定陶瓷涂層厚度。故該方法適應(yīng)于磁性基體上非磁性陶瓷涂層厚度的檢測(cè)。磁性測(cè)厚儀目前已有多種商品。如：CH-1型、DHC-1型、QCC-A型等。由于該方法簡(jiǎn)便易行，大多數(shù)現(xiàn)場(chǎng)使用此方法。
（2）測(cè)量影響因素�；w金屬本身因素的影響：厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、機(jī)械加工方向和剩磁等；陶瓷涂層本身影響因素：厚度、導(dǎo)電率、表面粗糙度等；環(huán)境因素：周圍磁場(chǎng)、外來(lái)附著物等；測(cè)量技巧的影響：探頭壓力、探頭取向和邊緣效應(yīng)等。
（３）基準(zhǔn)表面的確定。當(dāng)測(cè)量有效表面小于1cm2的工件局部厚度的基準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)取整個(gè)有效表面；當(dāng)測(cè)量有效表面大于1cm2的工件局部厚度的每個(gè)基準(zhǔn)表面時(shí)應(yīng)取1cm2(盡可能取邊長(zhǎng)為1cm的正方形）；基準(zhǔn)表面?zhèn)�數(shù)的確定必需使基準(zhǔn)表面的總面積不小于有效面積的5%，基準(zhǔn)表面的位置應(yīng)均勻分布在整個(gè)有效表面上。
2.渦流法
渦流法工作原理是將內(nèi)置高頻電流線圈探頭置于陶瓷涂層上，在被測(cè)陶瓷涂層內(nèi)產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，由此在金屬內(nèi)部產(chǎn)生渦流，渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭內(nèi)線圈，使其阻抗發(fā)生變化。隨基體表面陶瓷涂層厚度的變化，探頭與基體金屬表面的間距改變，反作用于探頭線圈阻抗發(fā)生相應(yīng)的變化。由此，測(cè)出探頭線圈的阻抗值可以間接地反映出陶瓷涂層的厚度。該方法適應(yīng)于非磁性金屬基體材料上非導(dǎo)電陶瓷涂層的厚度測(cè)量，同樣也適應(yīng)于磁性基體材料上的各種非磁性陶瓷涂層。國(guó)產(chǎn)渦流測(cè)厚儀有：JWH-1、JWH-3、7504等型號(hào)。
借助于游標(biāo)卡尺、千分尺等量具直接測(cè)量陶瓷涂層厚度。該方法主要用于機(jī)械零件的制造預(yù)保護(hù)陶瓷涂層和廢舊零件的再制造陶瓷涂層中。將機(jī)械零件的公稱尺寸下切到預(yù)留陶瓷涂層厚度的尺寸，在此基礎(chǔ)上制備陶瓷涂層，并留有相應(yīng)的加工余量，經(jīng)過(guò)車削、磨削后，使陶瓷涂層殘留量保持在陶瓷涂層設(shè)計(jì)所需要的厚度。
4.金相顯微鏡法
該方法適應(yīng)一般陶瓷涂層的測(cè)厚。其特點(diǎn)是準(zhǔn)確度高，判別直觀。將待測(cè)陶瓷涂層試樣制成陶瓷涂層斷面試樣，然后用帶有目鏡的金相顯微鏡觀察陶瓷涂層橫斷面的放大圖像，直接測(cè)量出陶瓷涂層的局部厚度的平均值。所制備供測(cè)量用陶瓷涂層厚度的試樣應(yīng)進(jìn)行切割、邊緣保護(hù)、鑲嵌（于一般金鑲制樣鑲嵌相同）、研磨、拋光、侵漬（目的是為使試樣斷面的陶瓷涂層和基體材料的剖面清晰地裸露出各自的色澤和表面特征，便于測(cè)量），然后水洗吹干即可進(jìn)行測(cè)量。
5.陶瓷涂層厚度評(píng)價(jià)方法
一般情況下，熱噴涂陶瓷涂層的厚度確定為在被測(cè)有效表面上測(cè)得的最小陶瓷涂層厚度。對(duì)于不同用途的陶瓷涂層，可根據(jù)用戶要求報(bào)告平均厚度、最小厚度或最大厚度。
熱噴涂陶瓷涂層無(wú)損檢測(cè)方法主要有磁性法、渦流法、測(cè)量法等；破壞性檢測(cè)法主要有金相顯微鏡法。
１.磁性法
磁性法工作原理是以探頭對(duì)磁性基體磁通量或互感電流為基準(zhǔn)，利用其表面的非磁性陶瓷涂層的厚度不同，對(duì)探頭磁通量或互感電流的線性變化值來(lái)測(cè)定陶瓷涂層厚度。故該方法適應(yīng)于磁性基體上非磁性陶瓷涂層厚度的檢測(cè)。磁性測(cè)厚儀目前已有多種商品。如：CH-1型、DHC-1型、QCC-A型等。由于該方法簡(jiǎn)便易行，大多數(shù)現(xiàn)場(chǎng)使用此方法。
圖（1）熱噴涂陶瓷涂層是采用專用設(shè)備
（1）檢測(cè)方法。這種方法在測(cè)量之前應(yīng)對(duì)進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)試，以確保測(cè)量精度。根據(jù)被測(cè)工件陶瓷涂層有效面積的 大小，采用不同測(cè)量點(diǎn)數(shù)進(jìn)行。對(duì)有效面積小于1cm2的陶瓷涂層工件作3點(diǎn)測(cè)量；對(duì)有效面積大于1cm2的陶瓷涂層工件，在選擇基準(zhǔn)面內(nèi)作3-5點(diǎn)測(cè)量；對(duì)有效面積大于1m2的陶瓷涂層工件，在選擇基準(zhǔn)面內(nèi)作9點(diǎn)10次測(cè)量，其中第1次測(cè)量點(diǎn)與第10次重合。（2）測(cè)量影響因素�；w金屬本身因素的影響：厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、機(jī)械加工方向和剩磁等；陶瓷涂層本身影響因素：厚度、導(dǎo)電率、表面粗糙度等；環(huán)境因素：周圍磁場(chǎng)、外來(lái)附著物等；測(cè)量技巧的影響：探頭壓力、探頭取向和邊緣效應(yīng)等。
（３）基準(zhǔn)表面的確定。當(dāng)測(cè)量有效表面小于1cm2的工件局部厚度的基準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)取整個(gè)有效表面；當(dāng)測(cè)量有效表面大于1cm2的工件局部厚度的每個(gè)基準(zhǔn)表面時(shí)應(yīng)取1cm2(盡可能取邊長(zhǎng)為1cm的正方形）；基準(zhǔn)表面?zhèn)�數(shù)的確定必需使基準(zhǔn)表面的總面積不小于有效面積的5%，基準(zhǔn)表面的位置應(yīng)均勻分布在整個(gè)有效表面上。
2.渦流法
渦流法工作原理是將內(nèi)置高頻電流線圈探頭置于陶瓷涂層上，在被測(cè)陶瓷涂層內(nèi)產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，由此在金屬內(nèi)部產(chǎn)生渦流，渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭內(nèi)線圈，使其阻抗發(fā)生變化。隨基體表面陶瓷涂層厚度的變化，探頭與基體金屬表面的間距改變，反作用于探頭線圈阻抗發(fā)生相應(yīng)的變化。由此，測(cè)出探頭線圈的阻抗值可以間接地反映出陶瓷涂層的厚度。該方法適應(yīng)于非磁性金屬基體材料上非導(dǎo)電陶瓷涂層的厚度測(cè)量，同樣也適應(yīng)于磁性基體材料上的各種非磁性陶瓷涂層。國(guó)產(chǎn)渦流測(cè)厚儀有：JWH-1、JWH-3、7504等型號(hào)。
圖（2）北京耐默公司采用專用儀器測(cè)量陶瓷涂層厚度
3.測(cè)量法借助于游標(biāo)卡尺、千分尺等量具直接測(cè)量陶瓷涂層厚度。該方法主要用于機(jī)械零件的制造預(yù)保護(hù)陶瓷涂層和廢舊零件的再制造陶瓷涂層中。將機(jī)械零件的公稱尺寸下切到預(yù)留陶瓷涂層厚度的尺寸，在此基礎(chǔ)上制備陶瓷涂層，并留有相應(yīng)的加工余量，經(jīng)過(guò)車削、磨削后，使陶瓷涂層殘留量保持在陶瓷涂層設(shè)計(jì)所需要的厚度。
4.金相顯微鏡法
該方法適應(yīng)一般陶瓷涂層的測(cè)厚。其特點(diǎn)是準(zhǔn)確度高，判別直觀。將待測(cè)陶瓷涂層試樣制成陶瓷涂層斷面試樣，然后用帶有目鏡的金相顯微鏡觀察陶瓷涂層橫斷面的放大圖像，直接測(cè)量出陶瓷涂層的局部厚度的平均值。所制備供測(cè)量用陶瓷涂層厚度的試樣應(yīng)進(jìn)行切割、邊緣保護(hù)、鑲嵌（于一般金鑲制樣鑲嵌相同）、研磨、拋光、侵漬（目的是為使試樣斷面的陶瓷涂層和基體材料的剖面清晰地裸露出各自的色澤和表面特征，便于測(cè)量），然后水洗吹干即可進(jìn)行測(cè)量。
5.陶瓷涂層厚度評(píng)價(jià)方法
一般情況下，熱噴涂陶瓷涂層的厚度確定為在被測(cè)有效表面上測(cè)得的最小陶瓷涂層厚度。對(duì)于不同用途的陶瓷涂層，可根據(jù)用戶要求報(bào)告平均厚度、最小厚度或最大厚度。
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